x射线衍射-j9九游会
创建时间：2008-08-02
x射线衍射
利用 x射线照射晶体（或某些非晶态物质）时产生的衍射，研究晶体内部结构（即内部原子排布）的分析技术。在金属学中用于了解成分对结构的影响，金属性能变化的本质和金属经过各种处理过程时结构变化的机制。
x射线是一种波长很短(约为20～0.06
)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的x射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的x射线，称为特征（或标识）x射线。考虑到x射线的波长和晶体内部原子间的距离(10
cm)相近，1912年德国物理学家劳厄(m.von laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为x射线的空间衍射光栅,即当一束 x射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布
格父子(w.h.bragg,w.l.bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了nacl、kcl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布
格定律： 
式中
为x射线的波长，
为任何正整数。 当x射线以掠角
(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为
的原子面上时(图1
)平" class=image>
),在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布
格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长
已知时(选用固定波长的特征x射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一
角符合布
格条件的反射面得到反射,测出
后，利用布
格公式即可确定点阵平面间距
晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(debye—scherrer)法(图2a
)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中（图2b
）所用单晶样品保持固定不变动（即
不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布
格条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向
后,便可计算x射线的波长，从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。 x射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的，出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦（a.westgren）(1922年)证明
、
和
铁都是体心立方结构，
-fe并不是一种新相;而铁中的
─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了
-fe硬化理论。随后,在用x射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在测定以及在和研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现，推动了对合金中的研究，对晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金的研究等等。目前 x射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面： 是 x射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。
常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。
包括测定单晶取向和多晶的结构（见）。测定的取向就是一例。另外，为研究金属的范性形变过程，如孪生、滑移、滑移面的转动等，也与取向的测定有关。
由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化，它直接影响材料的性能。
宏观残留应力的方向和大小，直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化，可计算出残留应力的大小和方向。
包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（见）。
包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系，等等。
对新发现的合金相进行测定，确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。
研究和，如测定近程序参量、配位数等。
在高温、低温和瞬时的动态分析。
此外，小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,x射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等，也得到了重视。
金属x射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法，这种方法费时较长，强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确，并可配备计算机控制等优点，已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来，随着高强度x射线源（包括超高强度的旋转阳极x射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲x射线源）和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用，使金属 x射线学获得新的推动力。这些新技术的结合，不仅大大加快分析速度，提高精度，而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。
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最近更新：2015-12-31
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